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1.1. 參(can)考精(jing)度
1.1.1. 數字、智(zhi)能：±0.1%校驗量程
1.1.2. 模(mo)拟、線(xian)性：±0.2%校(xiao)驗量(liang)程
1.2. 穩定(ding)性
1.2.1. 數字(zi)、智能：6個(ge)月，±0.1%URL
1.2.2. 模拟(ni)、線性：6個(ge)月(yue)，±0.2%URL
1.3. 環境溫度(du)影響
1.3.1. 數字(zi)、智能
零點(dian)誤差：±0.2%URL/56℃
總體(ti)誤(wu)差：±(0.2%URL+0.18%校驗(yan)量程(cheng)）/56℃
1.3.2.模拟(ni)、線性(xing)
零點(dian)誤差：±0.5%URL/56℃
總體(ti)誤差：±(0.5%URL+0.5%校(xiao)驗(yan)量程(cheng))/56℃
1.4. 靜壓(ya)影響
1.4.1.零點(dian)：
對于量程(cheng)4至8，在(zai)13790kPa下爲±0.2%URL;其它量程(cheng)爲±0.25%URL。零(ling)點(dian)誤差可在線(xian)通過重新(xin)調零來修正。
1.4.2.量(liang)程：
可(ke)修正至±0.25%輸(shu)出讀數(shu)/6895kPa，對(dui)于量程3，可修(xiu)正(zheng)至±0.5%輸(shu)出讀數/6895kPa
1.5. 振(zhen)動影響
在任(ren)意(yi)軸向(xiang)上，200Hz下(xia)振(zhen)動(dong)影響(xiang)爲±0.05%URL/g
1.6. 電(dian)源影響
小(xiao)于±0.005%輸出量程/伏(fu)特。
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1.7. 負載影(ying)響：
沒(mei)有負(fu)載(zai)影響，除(chu)非電(dian)源(yuan)電壓有(you)變化(hua)。
1.8. 電(dian)磁幹擾(rao)/射頻(pin)幹擾（EMI/RFI影響(xiang)）
由20至1000MHz，場強(qiang)達至(zhi)30V/M時，
輸(shu)出漂移小(xiao)于±0.1%量程(cheng)。
1.9. 安(an)裝位置影(ying)響(xiang)
零點漂(piao)移至多(duo)爲±0.25kPa。所有(you)的零點漂移都(dou)可修正掉(diao)；對量(liang)程無(wu)影(ying)響(xiang)。
2. 功能(neng)規格
2.1. 測量(liang)範圍(wei)：差壓(ya)：0-1.3～6890KPa
靜壓(ya)：4、10、14MPa
2.2. 零點(dian)與量程
2.2.1.數字、智(zhi)能：
可(ke)用本機量(liang)程和(he)零點(dian)按鈕調整(zheng)，或(huo)用(yong)HART手操(cao)器遠(yuan)程調(diao)整。
2.2.2.模拟、線性(xing)：
量程和(he)零點連(lian)續(xu)可調(diao)。
2.3. 零點正、負(fu)遷移(yi)
零點負(fu)遷移時，量程(cheng)下限必須(xu)大于或等于-URL；零(ling)點正遷(qian)移時，量(liang)程上限必(bi)須小于或(huo)等于+URL。校驗(yan)量程大于(yu)或等(deng)于最小量程。
2.4. 輸(shu)出
數字(zi)、智(zhi)能：
4～20mA DC，用(yong)戶可選(xuan)擇線性(xing)或平方根輸出(chu),數字(zi)過(guo)程變量(liang)疊加(jia)在4～20mA DC信(xin)号上(shang)，可供采用HART協議(yi)的上位(wei)機(ji)使用。
模拟、線性(xing)：
4～20mA DC,與過(guo)程壓力成(cheng)線性(xing)。
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